X edycja KMIS: 27 - 28 maj 2011
strona głównaaktualnościarchiwumbaza publikacjirejestracja on-line
I Konferencja Entuzjastów Informatyki
II Konferencja Entuzjastów Informatyki
III Konferencja Entuzjastów Informatyki
IV Konferencja Entuzjastów Informatyki
V Konferencja Informatyki Stosowanej
VI Konferencja Informatyki Stosowanej
VII Konferencja Informatyki Stosowanej
VIII Konferencja Informatyki Stosowanej



Wybór punktów pomiarowych we współrzędnościowej technice pomiarowej

Autor: Marek Magdziak

Streszczenie:

Artykuł przedstawia metodę wyboru punktów pomiarowych na podstawie kształtu mierzonej powierzchni swobodnej przedmiotu i pola tolerancji we współrzędnościowej technice pomiarowej. Metoda wyboru punktów pomiarowych może byc wykorzystana przede wszystkim w przypadku pomiarów przeprowadzanych na obrabiarce sterowanej numerycznie w warunkach produkcyjnych

Pobierz artykuł

copyright ::: PWSZ Chelm 2006-2011